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StEM
Stuttgarter Zentrum für Elektronen-Mikroskopie (StEM)


StEM (Stuttgarter Zentrum für Eletronenmikroskopie)
Sub-Elektronenvolt- Sub-Angström-Mikroskop (SESAM)
Das Stuttgarter Zentrum für Elektronenmikroskopie (StEM) besitzt eine umfassende Expertise im Bereich der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM). Neben der Durchführung eigenständiger Forschung kooperiert das StEM mit Abteilungen innerhalb der Stuttgarter Max-Planck-Institute sowie mit anderen Forschungseinrichtungen und der Industrie.


Leiter: Prof. Dr. Peter van Aken

Heisenbergstr. 3 Tel: + 49 711 689-3529
70569 Stuttgart Fax: + 49 711 689-3522

mail E-Mail: vanaken[at]mf.mpg.de
linkWebsite Internet: http://www.mf.mpg.de/stem



Von der aufwändigen Probenpräparation über die Abbildung der atomaren Struktur (Abb. 1) bis hin zur Analyse der chemischen Zusammensetzung (Abb. 2)
und der elektronischen Struktur (Abb. 3) besitzt das StEM (vgl. Abb. oben) alle Möglichkeiten zur Charakterisierung hochentwickelter Materialien auf atomarer Skala.

StEM4 Standard
Abb. 1

Hochauflösende
TEM-Aufnahme
einer TiO-Insel
auf SrTiO3.		 Abb. 2

SiC-Keramik gesintert mit Lu2O3-haltigen
Additiven. Links: Hellfeldaufnahme;
Rechts: Elementverteilungsbild mit Silizium
(pink), Kohlenstoff (blau), Lutetium (grün)
und Sauerstoff (gelb).		 Abb. 3

Links: Hochauflösende TEM-Aufnahme einer Korngrenze in SrTiO3;
Rechts: Variation von Energieverlust-
spektren über die Korngrenze.


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© 2011, Max-Planck-Institut für Metallforschung, Stuttgart