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X-ray Diffraction
X-ray Diffraction


ZWE Röntgenbeugung

Röntgendiffraktometer für Textur- und Spannungsmessungen.
Röntgenbeugungsuntersuchungen werden in Forschungsgebieten eingesetzt, in denen die atomare Struktur von Materialien eine wichtige Rolle spielt. Röntgenbeugungsanalyse ist insbesondere ein mächtiges Werkzeug zur quantitativen Ermittlung von mikrostrukturellen Defekten, die einen entscheidenden Einfluss auf Materialeigenschaften haben.


Leiter: N. N.

Heisenbergstr. 3

linkWebsite Internet: http://www.mf.mpg.de/roentgen



Röntgendiffraktometer für Reflektometriemessungen.
Neben der Phasenanalyse stehen mehrere Methoden für spezifische Untersuchungen zur Verfügung:
  • Hoch- und Tieftemperaturmessungen
  • Bestimmung der kristallografischen Textur
  • Analyse von Eigenspannungen
  • Ermittlung von Kristallitgrößen und Mikrodehnungen sowie, insbesondere für dünne Schichten, hochauflösende Diffraktometrie und Reflektometrie


  • Bei der Durchführung von Röntgenbeugungsmessungen kann auf modernste Diffraktometer zurückgegriffen werden.



Röntgendiffraktometer mit Mikrofokus-Drehanodenquelle und Heiz-/Kühlkammer für in-situ Untersuchungen.
Aktuelle Forschungsthemen:
  • Kornwechselwirkung in dünnen Schichten
  • Analyse von Eigenspannungsgradienten
  • Diffusion und Phasenumwandlungen in verspannten dünnen Schichten
  • Entstehung und Abbau von Eigenspannungen
  • Defekte in stark verformten Metallen


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© 2012, Max-Planck-Institut für Metallforschung, Stuttgart